Date post: | 05-Apr-2015 |
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SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Test hochintegrierter Schaltungen
Test hochintegrierter Schaltungen
Übung 7
Test hochintegrierter Schaltungen 2
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (PPSFP)
1 0 1
0 1 1
0 1 1
0 0 1
1 0 0
1 0 1
Gutsimulation
Test hochintegrierter Schaltungen 3
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (PPSFP)
1 0 1
0 1 1
0 0 0
0 0 0
1 0 0
1 0 0
Fehlersimulation
1 0 1
Muster 1 erkennt beta →Fault-Dropping, wenn weitere Muster existieren
Test hochintegrierter Schaltungen 4
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (PPSFP)
1 0 1
0 1 1
0 0 1
0 0 1
1 1 1
1 1 1
Fehlersimulation
1 0 1
Muster 2 erkennt alpha →Fault-Dropping, wenn weitere Muster existieren
Test hochintegrierter Schaltungen 5
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Parallel Fault)
1 1 1
0 0 0
0 0 0
0 0 0
1 1 1
1 1 1
Kein Fehler erkannt
Test hochintegrierter Schaltungen 6
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Parallel Fault)
0 0 0
1 1 1
1 0 1
0 0 0
0 0 1
0 0 1
alpha erkannt
Fault-Dropping ist erst möglich, wenn alle Fehler des Pakets erkannt wurden
Test hochintegrierter Schaltungen 7
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Parallel Fault)
1 1 1
1 1 1
1 0 1
1 0 1
0 0 1
1 0 1
beta erkannt
Test hochintegrierter Schaltungen 8
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Deductiv)
{a/0}1
0{b/1} {b/1,d/1}
{b/1,e/1}
{b/1,e/1,g/1}
{b/1,d/1,f/0}
0
1
1
{d/1,e/1,f/0,g/1,h/0}
Test hochintegrierter Schaltungen 9
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Deductiv)
{a/1}0
1{b/0} {b/0,d/0}
{b/0,e/0}
{a/1,g/1}
{b/0,d/0,f/1}
0
0
0
{a/1,g/1,b/0,d/0,f/1,h/1}
Test hochintegrierter Schaltungen 10
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Deductiv)
{a/0}1
1{b/0} {b/0,d/0}
{b/0,e/0}
{a/0,b/0,e/0,g/0}
{b/0,d/0,f/1}
1
0
1
{a/0,e/0,g/0,h/0}
Test hochintegrierter Schaltungen 11
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Cuncurrent)
u
u
u
u
u
a
b d
e g
f
h
0u
0
a/0u1
u
b/1u1
u
e/1uu
1
g/1
10
b/110
d/1u0
f/0
u
u1
g/1u
u0
g/0
01
b/001
d/0u1
f/1
1u
u
a/1u0
u
b/0u0
0
e/0uu
0
g/0Lokale Fehlerlisten
Test hochintegrierter Schaltungen 12
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Cuncurrent)
1
0
0
1
1
a
b d
e g
f
h
00
0
a/011
1
b/111
1
e/110
1
g/1
10
b/110
d/100
f/0
1
11
h/11
10
h/0
01
b/001
d/001
f/1
10
0
a/110
0
b/010
0
e/010
0
g/0Events an den Eingaben
Test hochintegrierter Schaltungen 13
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Cuncurrent)
1
0
0
1
1
a
b d
e g
f
h
11
1
b/111
1
e/110
1
g/1
10
b/110
d/100
f/0
0
10
h/0
Converge
Test hochintegrierter Schaltungen 14
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Cuncurrent)
1
0
0
1
1
a
b d
e g
f
h
11
1
b/111
1
e/110
1
g/1
10
b/110
d/100
f/0
0
10
h/0
Diverge
1
01
b/11
11
e/1
0
00
d/10
00
f/01
11
g/1
Test hochintegrierter Schaltungen 15
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Cuncurrent)
1
0
0
1
1
a
b d
e g
f
h
11
1
b/111
1
e/110
1
g/1
10
b/110
d/100
f/0
Converge
0
00
d/10
00
f/0 Erkannte Fehler
0
10
h/0
Test hochintegrierter Schaltungen 16
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Cuncurrent)
0
1
0
0
1
a
b d
e g
f
0
11
100
000
001
1
01 01 11
a/1 b/0 e/0 g/1
b/0 d/0 f/1
0
11
b/01
01
a/11
01
g/1
0
11
d/00
11
f/10
01
h/1
Test hochintegrierter Schaltungen 17
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Cuncurrent)
1
1
1
0
1
a
b d
e g
f
h
01
010
010
011
0
01 01 11
a/0 b/0 e/0 g/0
b/0 d/0 f/1
0
00
e/00
00
g/01
00
h/00
00
a/0
Test hochintegrierter Schaltungen 18
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Differential)
u
u
u
u
u
u u
Test hochintegrierter Schaltungen 19
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Differential)
1
1
1
1
1
0 u
Events an den Eingaben
Zustand G0:0 Ausgabe G0:1
Test hochintegrierter Schaltungen 20
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Differential)
1
1
0
0
1
0 u
Zustand G0:0 Ausgabe G0:1
Event durch FehlerinjektionFehler erkannt
Fault-Dropping möglich
Kein Unterschied
Test hochintegrierter Schaltungen 21
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Differential)
1
1
1
1
1
1 u
Event durch Fehlerinjektion und Entfernung
Zustand G0:0 Ausgabe G0:1
Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1
Fehler nicht erkannt
Test hochintegrierter Schaltungen 22
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Differential)
0
1
0
0
1
0 0
Event durch Fehlerentfernung und Eingaben
Zustand G0:0 Ausgabe G0:1
Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1
Zustand G1:0 Ausgabe G0:0
Restore G0
Test hochintegrierter Schaltungen 23
Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
Aufgabe 14 (Differential)
0
1
0
1
1
1 1
Event durch Fehlerinjektion
Zustand G0:0 Ausgabe G0:1
Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1
Zustand G1:0 Ausgabe G0:0
Restore Alpha0
Fehler erkannt